Laboratório de Microscopia e Microanálise - LMM
O Laboratório de Microscopia e Microanálise (LMM) é um laboratório multiusuário, localizado no Centro de Ciência e Tecnologia de Materiais (CCTM) do IPEN e sua infraestrutura permite a caracterização microestrutural e elementar de diferentes materiais como cerâmicas, metais, polímeros e compósitos desenvolvidos no IPEN.
GALERIA DE IMAGENS
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- Microscópio eletrônico de varredura (SEM), modelo TM3000, marca Hitashi, com detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) acoplado.
- Microscópio eletrônico de varredura (SEM), modelo XL-30, marca Phillips, com detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) acoplado.
- Microscópio eletrônico de varredura com canhão de emissão de campo (SEM-FEG), modelo JSM-6701F, marca Jeol, com detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) acoplado.
- Microscópio eletrônico de transmissão (TEM), modelo JEM-2100, marca Jeol, com detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) acoplado.
• O LMM faz análises para pesquisadores e alunos do IPEN e colaboradores de outras universidades ou institutos de pesquisa que desenvolvam projetos de pesquisa em conjunto com pesquisadores do IPEN, segundo as normas* de utilização do laboratório.
• Para pesquisadores e alunos de universidades, institutos de pesquisas, empresas privadas ou públicas que sejam externos ao IPEN, o LMM faz análises na forma de prestação de serviço, sendo que a utilização dos equipamentos é cobrada por hora. Para maiores informações, favor entrar em contato conosco.
Todos os usuários devem apresentar um projeto de pesquisa por aluno/pesquisador para cada microscópio que se tenha interesse em utilizar, justificando sua necessidade. A utilização dos equipamento estará condicionada à análise e aprovação deste projeto. O projeto, de aproximadamente 1 página, deve conter título, citar se é um projeto de mestrado, doutorado, ou pós-doc, eventuais fontes de financiamento, tempo previsto de duração do projeto, nome do requisitante, se não for o responsável pelo projeto, também o do orientador ou supervisor, equipe diretamente envolvida, um pequeno resumo do projeto, qual o objetivo da análise justificando a requisição de utilização do equipamento, descrição do tipo de amostra (particulado, sinterizado, laminado, solda, corrosão, etc), e outras informações que se julgar pertinente à análise. Os projetos só serão aceitos se relacionado a pesquisas desenvolvidas no IPEN, devem ser assinados por um pesquisador contratado do IPEN e entregues ao responsável pelo laboratório, para análise.
•A preparação das amostras é responsabilidade do usuário. Enfatizando que, amostras bem preparadas facilitam a análise, diminuem o tempo de observação, além de serem mais representativas para a pesquisa do usuário.
•O número de amostras a ser analisada por sessão varia de acordo com o microscópio a ser utilizado: SEM convencional (XL30): 4 amostras; SEM-FEG (JSM-6701F): 2 amostras; TEM (JEM2100): 2 amostras.
•O agendamento/entrega de amostras deve ser feito diretamente com os técnicos responsáveis pelos equipamentos, após a aprovação dos projetos.
•A operação dos equipamentos é feita somente pelos integrantes da equipe do laboratório ou usuários treinados** no caso do SEM-TM3000 (**de acordo com as regras de utilização do SEM TM3000).
Microscópio Eletrônico de varredura com canhão de emissão de campo
SEM-FEG
JSM-6701F - Jeol
Especificações
SEM
Ø Resolução de imagem de elétrons secundários (SEI):
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- 1,0 nm (com tensão de aceleração de 15 kV)
- 2,2 nm (com tensão de aceleração de 1 kV)
- Tensão de aceleração (ACC. V.): 0,5 a 30 kV
- Corrente do feixe: da ordem de 10-13 a 2x10-9 A
- EDS: Thermo-Noran
Microscópio eletrônico de transmissão
TEM
JEM 2100 - Jeol
Especificações :
ØFonte de elétrons termiônica de LaB6
ØResolução: 0.25 nm ponto a ponto
ØTensão de aceleração: 200KV
ØInclinação da amostra: ±30°
ØSpot size:
- •
•1.5 – 25 nm (EDS)
ØImagem: Camera Gatan
ØEDS: Thermo-Noran
ØOperação em modo STEM
ØPorta-amostras:
•single tilt
•double tilt de Berílio
| Nome | Função | Contato |
| Dra. Larissa Otubo | Pesquisadora Coordenadora | larissa.otubo@ipen.br |
| Dra. Ana Lúcia E. Godoy | Pesquisadora Gerente de Qualidade | analucia@ipen.br |
| Nildemar A. M.Ferreira | Técnico de Microscopia eletrônica de transmisssão |
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| Celso Vieira Morais | Técnico de microscopia eletrônica de varredura |
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| Dra. Flavia R.O. Silva | Técnica de microscopia eletrônica de varredura e transmissão | frsilva@ipen.br |
| Msc. Glauson A. Machado | Técnico de microscopia eletrônica de varredura | gmachado@ipen.br |
| Dileusa A. S. Galissi | Técnica de microscopia óptica e metalografia | dgalissi@ipen.br |
A comissão de usuários é composta por 2 membros da equipe do LMM, 3 membros do CCTM e o diretor do departamento de Pesquisa e Desenvolvimento do IPEN:
